Disable Z-Test、Disable Z-Write
采用
Disable Z-Test（禁用 Z 测试，禁用深度测试）
覆盖模式和 Disable Z-Write（禁用 Z 写入，禁用深度写入）
覆盖模式，以帮助确定应用程序是否遇到因 Z-buffer（Z 缓冲区）操作引起的潜在性能问题。在查看管线中，3D 数据被投影到 2D 屏幕空间；Z 缓冲区存储对象的 z 坐标，用于在 2D 空间中渲染每个像素。Z 测试又称为深度测试，如果一个新渲染像素的 z 缓冲区值比存储在 z 缓冲区中的当前深度值离查看器远，则深度测试通常会拒绝渲染一个特定像素的尝试。
Disable Z-Test
覆盖模式不执行任何 Z 缓冲区比较。如果使用
Disable Z-Write
覆盖模式，则深度比较的结果不会存储在 Z 缓冲区中。
普通图片
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isable Z–test
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禁用 Z–test 和 Z-write 按序列顺序渲染所有对象，而不论其离查看器的远近，并显示一些原本被隐藏的对象。
如果这些模式大幅提高性能，也许可在管线中的 Z 缓冲区测试之前，使用一些其他剔除技术来提高帧速率。通过先将对象拉近，使得 Z 缓冲区测试可在这些基元通过整个渲染管线之前拒绝更多对象，也可提高性能。